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主要特点及优点:
· 一个紧凑的单元中综合了如下功能:精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器
· 接触检测功能确保了高速及准确的测量
· 每秒10,000个读数和5,500个源-测量点记录到存储器,提供了更快速的测试
· 内置的测试脚本处理器(TSP™)提供非并行系统的自动化测试,将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍
· 2600系列提供宽动态范围:1pA到10A,1μV到200V
· TSP-Link™主/从控制架构将多台2600数字源表无缝地整合成一个系统,将其作为一台独立的仪器进行编程和控制
· 免费的测试脚本编辑软件--Test Script Builder,可以轻松地创建功能强大的测试脚本,实现用户特定的测试功能
· 免费的LabTracerTM2.0 软件,无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线,易学易用
· 每个40W,3A的通道都是独立的,从而保证了高度的测量完整性和配置的灵活性
· 业界zui高的SMU机架密度特别适合自动化测试的应用
型号 | 通道数 | zui大电压 | zui大电流(直流/脉冲) | zui小电流 | A/D转换器 | TSP-Link | 数字I/O |
2601B | 1 | 40V | 3A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2602B | 2 | 40V | 3A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2604B | 2 | 40V | 3A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2611B | 1 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2612B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2614B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 100fA | 积分 | 是 | 是 |
2634B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 积分 | 是 | 是 |
2635B | 1 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 积分 | 是 | 是 |
2636B | 2 | 200V | 1.5A/10A | 0.1fA | 积分 | 是 | 是 |
2651A | 1 | 40V | 10A/50A | 100fA | 积分和数字化 | 是 | 是 |
2657A | 1 | 3000V | 120mA/120Ma | 1fA | 积分和数字化 | 是 | 是 |
型号 | 特性 | 益处 |
2601B(单通道) | *40V,单通道电流; 3A直流;10A脉冲 | 对大多数电流器件、材料、元件和组件进行测试 |
2602B/2604B(双通道) | 分辨率100fA,100nV | 作为精确和稳定的电流/电压信号源,并进行测试 |
2611B(单通道) | *200V,单通道电流; 1.5A直流;10A脉冲 | 对多种大电流器件,材料,元件和组件进行测试 |
2612B/2614B(双通道) | 分辨率100fA,100nV | 作为精确和稳定的电流/电压信号源,并进行测试 |
2635B(单通道) | *200V,单通道电流;1.5A直流;10A脉冲 | 对多中国器件和材料进行测试 |
2636B/2634B(爽通道) | 分辨率0.1fA,100nV | 对*半导体和纳米技术器件以及精细材料(如石墨烯)进行精确测量 |
所有型号 | 可扩展TSP-Link架构(2604,2614,2634B无此功能) | 提高系统级速度,已降低测试成本;支持真正多通道并行测试;在不增加主机成本前提下,对测试系统进行扩展 |
TSP(嵌入式测试脚本处理器)架构 | 提高系统级速度,降低成本 | |
4象限设计 | 拉/灌电压和电流,提供更全面、更迅速的解决方案 | |
任意波形发生器,占空比为1%~ | *可以定制信号源,满足特殊器件需求,并实现自加热效应zui小化 | |
多种软件解决方案 | 促进研发,*和生产应用;迅速建立和进行测试 |
附件提供
2600-ALG-2:带鳄鱼夹的低噪声三同轴测试导线,2m(6.6ft)(2636A配两条,2635A配一条)
2600-IAC:安全互锁适配器接头(2611A/2612A和2635A/2636A配一个)
2600-Kit:配套螺旋接头(2601A/2602A/2611A/2612A)
CA-180-3A:TSP-Link/以太网线(每台两条)
TSP Express软件工具(嵌入式)
Test Script Builder软件(CD内提供)
ACS基础版软件(可选)
标准附件
操作员与编程手册,全部信号指标,TSP Express与测试脚本建立器软件,LabView驱动
基本测试电缆(除了2657A,均可以选择)
电源线
1年保修期
可选附件
2601B,2602B,2604B,2611B, 2612B,2614B | 2600-3轴 | 3轴电缆适配器 |
2600-BAN | 香蕉测试 | |
8606 | 2600-BAN探测套件 | |
2635B,2634B,2636B | 2600-Std-Res | Cal Std 1GΩ电阻器 |
2651A | 2651-KIT-2,-3 | 同轴电缆总成(2m,3m) |
2657A | HV-CA-554-X | HV 3轴到HV 3轴电缆 |
| SHV-CA-552-X | SHV到HV 3轴电缆 |
| HV-CA-571-3 | HV 3轴无端接电缆 |
2657A安全附件
2657A-PM-200 200V保护模块
2657A-LIM-3 低护连模块
其他附件
机架2安装套件 | 4299-1 | 单机架安装套件 |
4299-2 | 双机架安装套件 | |
4299-6 | 2651A,2657A后机架装套件 | |
4299-5 | 1U通风面板 | |
GPIB插卡与电缆 | KUSB-488 | USB至IEEE-488转换器 |
KPCI-488LPA | 小型IEEE-488转换器 | |
7006-x,7007-x | GPIB屏蔽电缆 | |
测试夹具 | 8010 | 3000V,100A测试夹具 |
8011 | 40V,50A测试插座套件 | |
8101-41TRX | 4引脚晶体管测试夹具 |
26XX-EX 延长保修期1年
26XX-3-EW 延长保修期3年
校准 标准符合Cal数据 ISO 17025认可
相关应用:
对多种器件进行I-V函数测试和特性分析,包括:
· 分立的和无源的元器件
· 双引脚 - 电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
· 三引脚 - 双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
· 并行测试 – 双引脚、三引脚元器件阵列
· 简单集成电路 – 光学、驱动器、开关、传感器
· 集成的器件-小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)
· 模拟IC
· 射频集成电路(RFIC)
· 应用定制的集成电路
· 系统级芯片(SOC)器件
· 光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、显示器 上述器件的研发和特性分析