美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了*自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声，评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

该系统在宽带测量方面是无二的，它不要求另外的低噪声参考激光光源。该系统操作简单、方便、快速、精度高，且无需附加额外的测试设备。这台无二的超低相位/频率噪声分析仪可扩展到不同的输入波段，并用于低相对强度噪声测量。

特点：

▪ 超低相位/频率噪声测量

▪ 快速实时测量

▪ 即刻和扩展的FWHM线宽分析

▪ 不需要低噪声参考光源

▪ 用户友好界面

▪ 简单的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸机架系统

▪ 可定制的配置、升级和选项

可选择的配置：

▪ 在630 nm  -  2200 nm范围内多个输入波段

▪ 超低噪声基底

▪ 相对强度噪声测量

▪ 扩展的偏移频率范围可达2 GHz

▪ 扩展的输入功率范围

▪ 远程操作

▪ 性能和频率

▪ 定制范围选择和升级