GCSTD材料介电常数测定仪
GCSTD材料介电常数测定仪
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GCSTD材料介电常数测定仪
GCSTD材料介电常数测定仪

GCSTD-DGCSTD材料介电常数测定仪

参考价: 订货量:
8000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-01-07 14:18:37
811
属性:
产地:国产;加工定制:是;测试参数?:C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR?;测试频率?:20?Hz~2MHz,10mHz步进?;测试信号电?:10mV~5V,±(10%+10mV)?;输出阻抗?:10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω?;
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产品属性
产地
国产
加工定制
测试参数?
C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR?
测试频率?
20?Hz~2MHz,10mHz步进?
测试信号电?
10mV~5V,±(10%+10mV)?
输出阻抗?
10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω?
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北京冠测精电仪器设备有限公司

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产品简介

GCSTD材料介电常数测定仪满足标准:
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

详细介绍


其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性


测试电桥参数 

测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

测试频率 20 Hz~2MHz,10mHz步进 

测试信号电 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) 

f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) 

输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本准确度 0.1% 

 L 0.0001 uH ~ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ~ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ 

公司仪器研发部拥有行业内高效的研发力量及技术团队,长期与高校实验室合作,并联合研发沿的测试技术,是对推动我公司在材料检测技术的提高和试验方法创新的重要技术保证力量。


公司主要致力于材料电性能、力学性能、燃烧性能、热物理性能、磨擦性能及行业用仪器的研发与销售,能够为客户进行业的检测实验室建设提供全面解决方案


客户:大中院校+科研机构+质检部门+实验室等


价值:为客户提供好的产品+好的服务


GCSTD材料介电常数测定仪

/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数

的测试方法


试验方法:

接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料



GCSTD材料介电常数测定仪








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