高档型半导体检测 TBM-800

高档型半导体检测 TBM-800

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具体成交价以合同协议为准
2024-10-16 13:44:10
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产品简介

高档型半导体检测TBM-800详细技术参数一、仪器用途 TBM-800半导体检测仪是检测双极型晶体管的基区宽度,半导体晶片的直径、平整度、光洁度、表面污染、伤痕等,刻蚀图形的线条长、宽、直径间距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的仪器

详细介绍

高档型半导体检测 TBM-800详细技术参数

一、仪器用途

 TBM-800 半导体检测仪是检测双极型晶体管的基区宽度,半导体晶片的直径、平整度、光洁度、表面污染、伤痕等,刻蚀图形的线条长、宽、直径间距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的仪器。配备大视野目镜与偏光观察装置,透反射照明采用“柯勒”照明系统,视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器,广泛应用在工厂、实验室和教学及科研等领域。


二、产品特点

  配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰。配置大移动范围的载物台,能快速和慢速移动。粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm。6V  20W卤素灯,亮度可调。三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行99%透光摄影。不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机显示屏幕上观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。


三、技术参数

1.目镜
类型放大倍数视场(mm)
大视野目镜10Xφ18
2.物镜
类别放大倍数孔径数值工作距离(mm)
长距平场消色差物镜5X0.129.7
10X0.259.3
20X0.407.2
40X0.603.0
80x0.801.2
3.光学放大倍数:50X  100X   200X  400X  800x
 4.三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换)
 5.五孔转换器  (外向式滚珠内定位)
 6.载物台:三层机械移动式,尺寸:  250mmX230mm,移动范围: 154mmX154mm
 7.粗微动同轴调焦,  微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
 8.照明系统:6V  20W卤素灯,亮度可调;带视场光栏、孔径光栏,起偏振片,,
 9.滤色片组:(黄,蓝,绿,磨砂)
 10.防霉系统


 四、系统组成  

(TBM-800):1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集)


 五、总放大参考倍数  

TBM-800型:503500倍

                 
 六、选购件  

1.目镜:16X 10X分划  2.物镜:50X  60X  100X  3.二维测量软件
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