Thermal probe system热扫描探针系统，联用AFM显微镜，既能实现AFM探针常规轻敲和接触扫描，获得高清晰度的图像，同时能够实现样品热学性质的探测。尤其适用于高分子材料组分热学性质评估。

模块性能：

可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试

1） 温度；

2） 温度梯度变化曲线；

3） 定性热导率；

4） 相变温度；

5） 定性热容量；

模块优势：

1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半；

2）精细测量，能达到20nm区域测温；

3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形；

模块扫描机制：

应用领域：

Thermal Probe system适用于太阳能电池、有机发光材料研究、发光器件以及其它对高分子热学性质探测、高分子组分特点研究等各个领域。