yb6600半导体特性图示仪简介

yb6000软件配合yb6600半导体特性图示仪测试主机使用，可自动生成功率器件的i-v曲线。在失效分析中有广泛的应用。yb6600是一款很具有代表性的晶体管图示仪，yb6600是专业的测试仪器。可快速形成特性曲线。目前在iqc来料检验，失效分析等部门有广泛的应用。

yb6600特点

• yb6600测试应用在各大量生产、质量控制和zui终的测试。基于windows 软件，我们的测试程序有很高的稳定性，操作快捷简单
• 高速单面检测
• 混合多重测试设备能力
• 2kv
• 1na到50安培标准，100安培可选
• 0.1na resolution 0.1na分辨率
• *的自我测试
• 自动校准
• rdson to 0.1mohm分辨率
• windows应用软件
• 可选择特性曲线
• mosfet, igbt, j-fet
  triac, scr, sidac, diac, quadrac, sts, sbs
  transistor, diode, opto, zener
  regulator, mov, relay
• 快速的数据收集

yb6600曲线跟踪特点

品种繁多的曲线
可编程的数据点对应
增加线性或对数
可编程延迟时间可减少器件发热
保存和重新导入入口程序
保存和导入之前捕获图象
曲线数据直接导入到excel
0曲线程序和数据自动存入excel
程序保护zui大电流/电压,以防损坏

yb6600图形特征/工具

局部曲线放大

转换成log或线性

数据点曲线

支持曲线缩放

打印图表

自定义扫描曲线

存储图表

yb6600标准特性曲线:
1、mosfet（n-channel＆p- channel）（金属-氧化物-半导体 场效应管）

id vs vds （在vgs范围内）

id vs vgs （在一个固定的id）

is vs vsd

rds vs vgs （在一个固定的vds）

rds vs id （在vgs范围内）

2、晶体管（transisitor）

hfe vs ic

bvce（o.s.r.v） vs ic

bvebo vs ie

bvcbo vs ic

vce（sat）（在一定的ic/ib比率）

vce（sat） vs ib（在ic的范围内）

vbe（sat） vs ib （在一定的ic/ib比率）

vbe（on） vs ic （在一定的vce）

3、igbt（n-channel＆p- channel）（绝缘栅双极晶体管）

ic vs vce （在vge范围内）

ic vs vge （在一定的vce）

ices vs vce

if vs vf

4、diode （二极管）

if vs vf

ir vs vr

5、zener （稳压管）

if vs vf

ir vs vr

6、triac （双向可控硅）

it vs vt（+/-）  （在一个固定的ig）

7、scr （单项可控硅）

it vs vtm （在一个固定的ig）

8、ssvop（固态过压保护器）

it vs vt（+/-）  （在一个固定的ibo）

9、sidac（高压触发二极管）

it vs vt（+/-）  （在一个固定的ibo）

10、diac（双向触发二极管）

id vs vf（+/-）

11、regulator（稳压器）

electronic load vs v out（在一个固定zui大电流）

12、j-fet（（n-channel＆p- channel）） （结型场效应管）

id（off） vs vds（在vgs范围内）

id（off） vs vgs（在一个固定的vds）

id（on） vs vds（在vgs范围内）

id（on） vs vgs（在一个固定的vds）

13、curve tracer mode only（曲线跟踪模式）

ic vs vce（在一个固定的ib）