zui大测试管脚数:256

AT256全品种集成电路测试仪测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）

AT256全品种集成电路测试仪测试原理（v-i曲线测试）：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单: 

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

AT256全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件: 

-双列插脚（DIL）
-小型封装集成集成电路（SOIC）
-小型封装（SSOP, TSOP）
-塑料无引线芯片载体封装（PLCC）
-四方扁平封装（TQFP, PQFP, LQFP）
-球门阵列封装（BGA）
注意:AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道 
可扩充到192/256个测试通道。

AT256全品种集成电路测试仪用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

了解详细资料请点击:http://www.bjshtek.net