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SB2204型智能化介质损耗测试仪
一.概述
SB2224型智能化介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗(tgδ)和电容值(Cx)的数显式仪器。用语在共频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容值(Cx)。仪器不仅可以测量两个电极与地绝缘的试品,也可以测量一极接地的试品。与西林电容电桥相比,具有操作简单、使用方便、读数直观、无需换算、抗力强等优点。
二.技术指标
环境温度:0-40℃ 相对湿度:30%-80% 供电电源:电压:220V±22V,频率:50±1Hz
外型尺寸:1×b×h, mm:560×320×400 重量:不大于40kg 功耗:不大于15kvA
测量范围:介质损耗(tgδ):±0-0.3 最小测量电流:5µA
输出电压及输出电流:10kv(100mA)、 3kv(333mA)、1kv(500mA)。输出电压倍率:×1,×0.75,×0.5
基本测量误差:
测量内容 | Tgδ范围 | 测量电流(Icx)范围及输出电压 | 工作方式 | 基本误差 |
介质损耗因数(tgδ) | tgδ≤0.1 | 20µA≤Icx≤500mA输出电压>1Kv | 正接线法 | ±(1%读数+0.0008) |
反接线法 | ±(1%读数+0.0015) | |||
10µA≤Icx﹤20µA输出电压>1kv | 正接线法 | ±(2%读数+0.0015) | ||
反接线法 | ±(2%读数+0.0025) | |||
5µA≤Icx﹤10µA输出电压≤1kv | 正接线法和反接线法 | |||
0.1﹤tgδ≤ 0.3 | 20µA≤Icx≤500mA | |||
电容量 | 0≤tgδ≤0.3 | 5µA≤Icx≤500mA | ±(2%读数+1.5PF) |