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能量色散型X射线荧光元素分析仪 多元素分析仪
面议九成新日本精工荧光分析仪SEA1000A
面议高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 多元素分析仪
面议锂离子电池·燃料电池用X射线异物分析仪
面议高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪 多元素分析仪
面议Delta系列便携式XRF合金分析仪 金属分析仪
面议美国Innov-X RoHS[无卤]检测仪
面议美国Innov-X 便携式ROHS检测仪
面议示差热热重量同时测定装置(TG/DTA)
面议高敏感度差示扫描热量计(DSC)
面议超高敏感度型差示扫描热量计(DSC)
面议连续型高精度ICP发光分光分析装置 微波等离子体光谱仪(MPT、MIP)
面议 SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 |
SFT9000系列里的机型“SFT9455”,搭载 |
75W高速X射线管和双重检验装置(半导体检验装 |
置十比例计数管)。适用“薄膜”、“金属 |
膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测 |
定要求的高性能膜厚测量仪器。而且 |
“SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可 |
以用作异物定性分析和材料成分分析。 |