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SIDSP技术-技术,智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。
SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您精确的涂层厚度值。此项*的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。
为什么选择SIDSP?
SIDSP探头具有*的抗干扰性
任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有*的抗*力。
SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有*的重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的优秀性能。
高精确度的SIDSP探头特征曲线
在生产过程中,EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准,但SIDSP探头不同:由于是全自动化过程,探头在50个点上进行校准,大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准,将测量错误降至zui低。
SIDSP探头对温度变化不敏感
在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生!
SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择!
SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿
由于使用了EPK特殊的自动补偿方法,SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料,如铜,钛,等等,无需特别在基体上校准仪器。
SIDSP-未来解决方案
EPK将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的进行免费的软件升级,使您的SIDSP探头总是版本。
MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700产品线,加强了EPK在涂层测厚市场的.
有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高精确度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题,而产品优质的外观是您*价值和成功的关键,比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑,或电镀等行业。
增加了测量速度设置选项
MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。
使用简单方便
MINITEST 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
预设选项节省您的时间和金钱
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应销售需要,MINITEST 700满足各种标准:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
MINITEST 700优点一览:
-SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
标准配置:
带塑料手提箱,内含:
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730(外置探头)
--或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池
*配件:
-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5,N0.7,FN1.5 | F2 | F5,N2.5,FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头,使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||
精确度 | ±(1μm+0.75%读值) | ±(1.5μm+0.75%读值) | ±(5μm+0.75%读值) | |||
重复性 | ±(0.5μm+0.5%读值) | ±(0.8μm+0.5%读值) | ±(2.5μm+0.5%读值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半径(凹,外置探头) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半径(凹,内置探头) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下zui大测量速度 | 每分钟70个读数 |
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
统计值 | 读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准程序符合标准和规范 | ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |