分析:磁性测厚仪测量精度影响因素
时间:2014-05-15 阅读:575
导读:磁性测厚仪,一体式仪器结构,可以单手操作。采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度。以下我们来了解下磁性测厚仪测量仪器精度影响因素。
影响磁性测厚仪测量精度的因素主要有:基体金属磁性、基体金属厚度、边缘效应、曲率、表面粗糙度、外界磁场、附着物质、测头压力等。
影响测量精度几个因素的详细说明。
基体金属磁性。磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理及冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。也可用待涂覆试件进行校准。
基体金属厚度。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
边缘效应。仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
曲率。试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
表面粗糙度。基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶剂溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
磁场。周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
附着物质。对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
测头压力。测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此仪器测头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
以上是对测厚仪测量精度影响因素的说明。另外,介绍下使用仪器时的注意事项。
基体金属特性。标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
基体金属厚度。检查基体金属厚度是否超过临界厚度。
边缘效应。不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
曲率。不应在试件弯曲表面上测量。
读数次数。通常由于仪器的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在的面积内进行多次测量,表面粗糙时更应如此。
表面清洁度。测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀物质等,但不要除去任何覆盖层物质。
以上是对测厚仪器的影响因素的说明,及使用时应注意的必要事项。希望能对想了解测厚仪的客户有所帮助!更多测厚仪器、测量测距仪器等,请搜澳洲新仪器!