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雷达物位计的基本设定

时间:2014-07-19      阅读:262

对于近年来迅速发展经济,对雷达物位计的需求也将越来越大在多个领域雷达物位计被越来越多的使用其中包括在许多复杂条件而且它的综合性能优于其他常规物位测量技术。所以应用范围更广。

雷达物位计不受工艺复杂条件的限制,如低介电常数和变介电常数(会影响射频导纳/电容式液面计工作)、变介质密度[影响浮筒和压力/差压式液面计工作]、气化、泡沫/液面波动[影响超声波液面计工作]等的影响,可很好地解决这些介质条件下的物位测量。我们在选用物位仪表时,应区别不同介质工作条件及过程要求,选用成本低、精度高、价格适中、能可靠的测量仪表。

雷达物位计的基本设定

A、根据物位计测量储罐的形状,设定储罐特性。

B、根据检测介质的特性设定介电常数。

C、在过程条件一项选择所测介质的过程变化情况,如果是杆式的雷达物位计,还应该设定探头底部的接触情况。

D、接下来按照工艺要求设定物位计的空标和满标值,如果是导波管的还应该设定导波管的直径。

E、根据设定的空标值做全程抑制。

我们对于产品的关注和使用往往会根据它本身的特点性能和我们自身的需要以上的介绍是我们对雷达物位计的一些列举。希望对您有所帮助。也希望您继续关注ABG仪表。我们期待与您实现共赢。

本文来自:

雷达物位计  

超声波流量计 

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