ST2000-DLXn 薄膜厚度测量仪
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北京三尼阳光科技发展有限公司
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活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200?~ 35?(根据膜的类型) 光斑尺寸 20? 典型值 测量速度 1~2 sec./site 应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型 三目探头 nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
尺寸 190 x 265 x 316 mm 重量 12Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 4" 测量方法 非接触式 测量原理 反射计 特征 测量迅速,操作简单 非接触式,非破坏方式 优秀的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射
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