LCR测试仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-02-03 12:31:15
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北京三尼阳光科技发展有限公司

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产品简介

ZM2371ZM2372测量频率1mHz~100kHz基本精度0

详细介绍

ZM2371
ZM2372
测量频率 1 mHz~100 kHz

基本精度

0.08 %

测量信号电平

10 mVrms~5 Vrms
测量参数 Lp, Ls, Cp, Cs, Rp, Rs, lZl, lYl, G, Q, D, th, X, B, Rdc
测量速度 2 ms
接触检查功能
接口 USB, RS-232
USB, RS-232, GPIB
处理机接口

软件 遥控与数据收集用的应用软件

特点:

高速测量 2ms

测量时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。
如果设定为RAP,则能够进行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速测量,有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选零部件的时间。


高精度 基本精度0.08%,分辨率 6位数

测量的基本精度为0.08%的高精度,显示分辨率6位数,在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的精度要求。


高分辨率 测量频率 1mHz~100kHz、分辨率5位数

能够在1mHz~100kHz的宽范围内,用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。


宽广的测量信号电平 5Vrms

能够在10mVrms~5Vrms的宽范围内,用3位数的分辨率设定信号电平,便于测量信号电平依存度较强的零部件。


内置DC偏置用电源 2.5V

内置0~+2.5V(分辨率0.01V)DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类极性零部件和半导体的接合容量。


+ 4端子的接触检查功能(ZM2372 )
+

装备了接触检查功能,以防止测量端子前端部和零部件之间接触不良造成的错误测量、错误筛选。使用4端子进行接触检查,发生接触不良时,不进行测量、筛选,而判断为接触不良。有助于提高检查合格率。

+
contact check Step1:
检查左图的虚线间是否导通 (接触检查)
接触不良时,表示为「NC」不进行测量
追加测量时间 4ms
Step2:
测量左图的虚线指示的部分 (正式测量)

+

丰富多彩的功能 配备了各种便捷的使用功能

+

恒压/恒流驱动(ALC) 能够施加恒定的电压/电流信号,因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品,也能够稳定地进行测量。


+

DC测量

+

能够使用DC进行测量,便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。


+

比较

+

最多14种分类(BIN)、筛选零部件,也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口(ZM2372)。
ZM2371∶最多9种,ZM2372∶最多14种


+

偏差测量

+

通过预置被测零部件的额定值,能够显示与额定值之间的偏差(或者偏差%)


+

触发同步驱动

+

通过接触零部件后输出信号,能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。


+

设定值和校正值存储

+

能够保存/恢复32组设定条件和校正值。更换生产线中的零部件(测量)时,也能够迅速应对。


+

应用软件

+

遥控与数据收集用的应用软件

应用软件
应用软件
主要操作画面
Excel的图表显示例

配备多种接口

用于自动筛选生产线中零部件的处理机接口*以外,标准配置了GPIB*、RS-232、USB各种接口。能够容易地构建自动测量系统。

* 限于ZM2372型号





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