科学研究和技术开发的进步极大程度地依赖于用以表征材料性能和特性的高效成像解决方案。无论是开发与论证用于描述材料性能和特性的模型，或是简单地对结构细节信息进行成像，能以三维方式揭示微观结构的细节是关键所在。蔡司三维 X 射线显微镜（XRM）：即便是相对较大的样品，的成像解决方案也可以借助高衬度和亚微米分辨率出色地完成三维成像。在无损三维（3D）成像方面取得的这一系列突破性飞跃，大大拓宽了技术学科的研究范围。

亚微米级三维 X 射线显微镜中的 Xradia Versa 系列，在显微镜物镜转盘中装配 X 射线探测器用以轻松完成变倍操作，拥有 700nm 的空间分辨率和最小 70nm 的三维像素。Xradia Ultra 纳米级 X 射线显微镜系列是一款商用化的 X 射线显微镜，装配有可实现同步辐射质量的射线源，并能够提供 <50nm 的真实空间分辨率及最小 16nm 的三维像素。

为向您的 X 射线显微镜提供持续的投资保护，蔡司现在骄傲的宣布，我们能够提供扩展 Versa 和 Ultra 系统功能的升级软件。