光学污泥泥位分析测量系统

OPTISYS SLM 2100光学污泥泥位分析测量系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-06 15:08:19
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科隆中国-科隆测量仪器(上海)有限公司

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产品简介

光学污泥泥位分析测量系统,适用于测量污泥泥位、绒毛层以及沉淀轮廓的。采用直接深入底部的光学传感器,检测所有的污泥状态,提供精确的浓度和泥位测量。

详细介绍

OPTISYS SLM 2100光学污泥泥位测量系统,适用于沉淀轮廓的测量和污泥层的连续跟踪

集成的输出有:2 x 4…20 mA、3 路继电器(如,用于限位开关)

可自动切换的三种测量模式:沉淀轮廓、污泥层/ 绒毛层的高度、泥位区域跟踪

0.1…30 g/l;最大 10  m / 32.8 ft

可选自动冲洗装置,减少维护量

OPTISYS SLM 2100 是一款污泥泥位测量系统,适用于测量污泥泥位、绒毛层以及沉淀轮廓的。采用直接深入底部的光学传感器,检测所有的污泥状态,提供精确的浓度和泥位测量。因此,它也能够连续地测量污泥层(区域跟踪),并监测某个特定的“区域”(例如,用于控制排污泵)。为了优化过程监测,可选择测量模式自动切换功能,用以同时测量沉淀轮廓。与超声波污泥泥位计不同,避免了池壁回波信号、绒毛层或浮泥层的信号阻尼所导致的错误测量。

光学污泥泥位分析测量系统 特点 & 选项

产品的特点与选项,取决于产品的配置:请联系我们,以帮您确认所需的功能是否已包含在产品中。

测量精确且不受色度干扰,最深 10  m / 32.8 ft

不受绒毛层或浮泥层的干扰

内置调节温度的加热器和排风扇

耐用的不锈钢传感器和仪表外壳

粉末涂层,IP 55 外壳,适用于户外安装

每个测量周期后,自动清洗传感器和电缆(可选项),减少维护量

测量模式自动切换功能,提供额外的沉淀轮廓检测并优化过程监测

操作和服务的通用理念,保持与科隆公司的流量和物位仪表一致(GDC)

光学污泥泥位分析测量系统 典型应用

水和污水、采矿、电力行业:

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