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ts-80荧光膜厚计

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广东艾思荔检测仪器有限公司

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创新点

荧光膜厚计特点：

中文视窗操作测量系统
解析度0．001um， zui小测量面积0．1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

荧光膜厚计特点：

中文视窗操作测量系统
解析度0．001um，小测量面积0．1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

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