ts-80-镀层测试仪-东莞市南城艾思荔检测仪器经营部手机版

ts-80镀层测试仪

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产品简介

荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

镀层测试仪特点：

中文视窗操作测量系统
解析度0．001um，小测量面积0．1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

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