半导体冷热冲击试验箱现货使用于电子、汽车配件、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验出产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

半导体冷热冲击试验箱特点

1）此设备分为高温区、低温区、测试区三部分，采用*之断热结构及蓄热、蓄冷效果，应用冷热风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试，待测品为不移动之方式。

2）采用原装日制微电脑大型液LCD（302*240 Dots）中英文显示控制系统。

3）高程序记忆容量，可设定储存100组程序，大循环设定9999 Cycles，每段时间大设定999 Hrs 59Mins。

4）具有RS-232C通信接口装置，可与计算机联机操控/编辑/记录及二组动态接点(Time Signal Relay)，使用便捷。

5） 执行冷热冲击条件时，可选择2Zone或3Zone之功能。

6） 具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*由P.L.C锁定处理。

7）机器故障时，配有自动机回路及警示号。

8） 发现输入电力不稳定时，具有紧急停机装置。

半导体冷热冲击试验箱可扩充：

1、温度记录器

2、LN2快速降温控制系统

3、RS-485通信接口装置，可与个人计算机同时进行局域网络联机监控及记录。可扩充：液态氮低温辅助系统      

2、温度自动记录器

3、RS-485多机版局域网络联机监控及记录之软件。

半导体冷热冲击试验箱产品规格（mm)

型号:TS -80   工作室尺寸:H×W×D  400×500×400   外形尺寸: H×W×D  1500×1350×1470

型号:TS -100  工作室尺寸:H×W×D  450×500×450   外形尺寸: H×W×D  1550×1450×1550

型号:TS -150  工作室尺寸:H×W×D  500×600×500   外形尺寸: H×W×D  1600×1550×1920

型号:TS -252  工作室尺寸:H×W×D  600×700×600   外形尺寸: H×W×D  1700×1650×2170

型号:TS -480  工作室尺寸:H×W×D  750×800×800   外形尺寸: H×W×D  1850×1750×2270

半导体冷热冲击试验箱现货符合标准:

GJB367.2-87 405温度冲击试验。

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式

满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

GB/T 2423.22-2002温度变化

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则,

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

GB/T2423.1-2001低温试验方法；

GB/T2423.2-2001高温试验方法；

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