HAST高压加速老化箱主要用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

那么HAST高压加速老化箱测试标准有哪些呢?见以下表格：

艾思荔HAST高压加速老化箱技术参数：

1.型号：HAST-35。2.内部尺寸:￠350*450mm。3.测试容积：45。4.温度范围：100℃～145℃。

5.压力范围：0kg/c㎡～3kg/c㎡。6.湿度范围：70～R.H。7.标准配备12条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量。8.标配的置特架2层。

HAST高压加速老化箱加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验 。