HAST高压加速老化试验机箱的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。用较少的时间就可完成对产品的湿度的测试。在100℃以上的温度下，通过提高和增加压力，可以模拟正常湿度测试，同时保持相同的故障机制。几小时或几天就能通过产品的老化测试，大大节省了产品开发周期。

　　HAST高压加速老化试验机箱,HAST高压加速寿命试验机参数：

　　湿度波动度 ≤±2.5 %R.H.

　　湿度均匀度 ≤±3.0% R.H.

　　压力范围 0.2～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa)

　　升温时间 常温 → + 143℃ 约45 min .

　　升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 约40 min.

　　温度范围 105℃ → +143℃.

　　温度波动度 ≤±0.5℃.

　　温度均匀度 ≤±2.0℃.

　　湿度范围 75% ～ 100 %R.H .

　　HAST高压加速老化试验机箱/HAST高压加速寿命试验机标准：IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118;GB/T 2423.40-1997