HAST高度加速寿命试验机原理
　　●艾思荔 HAST高度加速寿命试验机随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（电工委员会）所标准化。
　　●HAST高度加速寿命试验机加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
　　产品规格（mm）：
　　1.型号:PCT-250工作室尺寸:Φ250×D400
　　2.型号:PCT-300工作室尺寸:Φ300×D500
　　3.型号:PCT-400工作室尺寸:Φ400×D600
　　4.型号:PCT-500工作室尺寸:Φ500×D700
　　HAST高度加速寿命试验机特性优势:
　　●试验过程自动运转至完成结束,使用简便。
　　●三重压力安全保护装置，采用控制器内部两段式超温保护+机械式压力安全保护装置。
　　●手动安全保护排压伐，警急安全装置两段式自动排压伐。
　　●双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。
　　HAST高度加速寿命试验机通用测试方法
　　JEDEC标准22-110B：高加速应力测试温度和湿度
　　JEDEC标准22-118：加速耐湿性-无偏张炳良说：
　　IEC出版物60068-2-66（1994-6）：稳态湿热
　　IEC出版物60749修改1：湿热，稳态高加速
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