解说膜厚仪
时间：2014-02-27 阅读：3364
膜厚仪简单地说萤光X射线装置（XRF）和X射线衍射装置（XRD）有何不同，萤光X射线装置（XRF）能得到某物质中的元素信息（物质构成，组成和镀层厚度），X射线衍射装置（XRD）能得到某物质中的结晶信息。
膜厚仪具体地说，比如用不同的装置测定食盐（氯化钠=NaCl）时，从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠（Na）和氯（Cl）构成，而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠（NaCl）的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置（XRD为好，但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置（XRD）就很难判定，必须先用萤光X射线装置（XRF）得到元素信息后才能进行定性。
膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
膜厚仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。