牛津仪器工业分析部，作为的高质量材料鉴定与镀层测厚仪器的供应商，现在宣布推出技术应用报告：使用台式X射线荧光光谱仪X-Strata920实现PTZ陶瓷镀银分析，符合ISO3497和ASTM B568标准。

牛津仪器公司于2012年发布了X射线荧光光谱仪X-Strata920，用于镀层厚度测量和材料分析。这次的应用报告展示了X-Strata920能够地完成镀层厚度测量，并按照检测方法ISO347和ASTM B568检测金属和一些非金属镀层。由于这款仪器装有大面积探测器和牛津仪器自行研发的微焦距X射线光管，它能够提供高强度小斑点的X射线光束，从而满足更好地样品激发和元素检测。经过验证，X-Strata920是检测金属镀层的工具。而且，它能保证在同级别仪器中性*，几秒钟就获得分析结果，确保过程控制更好、成本更低、效率更高。

X-Strata920性能，能够低成本率地对各种行业中的多镀层装配件进行质量控制分析，包括电子行业、五金电镀、合金和贵金属检测。对于这些行业，X-Strata920能为客户带来：

·         加强过程控制，提高生产力
·         把电镀过程的成本降到zui低
·         对珠宝和其他合金进行快速无损分析
·         提供多达4层的分析，比如电子器件镀层Au/Ni/Cu、Pd/Ni/Cu、Ag/Sn/Cu等的检测
·         经过认可的技术能确保可靠性更佳，今后不断带来价值回报
·         保证操作简单，基本不需要培训，结果不会随操作人员变化而变化
对于常规操作，X-Strata920分析结果可导出到不可编辑的PDF文件以确保数据安全性，或者也可以通过网络直接导出到Excel文件。现在这份报告重点介绍X-Strata920在PTZ陶瓷镀银的分析。如果想获得这份应用报告，请发送邮件到industrial@oxinst.com并在主题中注明“X-Strata920在PTZ陶瓷镀银的应用报告”。