详细介绍

热像仪

FLIR X6530SC红外热像仪

产品说明

FLIR X6530SC红外热像仪

中波制冷型红外热像仪
碲镉汞（MCT）探测器
像素分辨率：640 x 512
响应波段1.5-5.1um
超声驱动电动镜头
窗口模式下以高帧频传输
LCD触摸显示屏
电动滤光片转轮
连续非均匀校正和超级温度标定技术
支持用户自行标定温度曲线
FLIR X8000 sc / FLIR X6000 sc 技术参数
型号说明

	X8400 sc	X6580 sc	X6570 sc	X6550 sc	X6530 sc	X6520 sc
成像性能
分辨率	1280 x 1024	640 x 512	640×512	640 x 512	640 x 512	640 x 512
帧频	106 Hz : 640x512 高达 3000 Hz : 1280x8	355 Hz : 640x512 高达 4500 Hz : 320x8	234Hz：640×512 高达14550 Hz：160×1	125 Hz : 640x512 高达 4011 Hz : 64x8	145Hz：640×512 高达3600 Hz：136×8	145Hz：640×512 高达3600 Hz：136×8
光谱范围	7.7-9.3µm	1.5 - 5.1µm	7.7 – 9.3μm	1.5 - 5.1µm	1.5 - 5.1µm	1.5 - 5.1µm
机动化调焦机制	否	是	有	是	有	有
势阱容量	5.8 M 电子	6.5 M 电子	6.36 M电子	6.5 M 电子	6.36 M电子	6.36 M电子
数字数据流	- 同步以太网和Camera Link Base - Camera Link Medium	- 同步以太网和Camera Link Base - Camera Link Medium	千兆以太网和Camera Link	- 同步以太网和Camera Link Base	千兆以太网和Camera Link	千兆以太网和Camera Link
焦距	手动	USL 模式或手动	超声驱动电动调焦或手动调焦，自动对焦	USL 模式或手动	超声驱动电动调焦或手动调焦，自动对焦	超声驱动电动调焦或手动调焦
热像仪 f/#	2.0	3	2.0	2.5	3.0	4.0
探测器
探测器类型	锑化铟（InSb）	锑化铟（InSb）	碲镉汞（MCT）探测器	锑化铟（InSb）	碲镉汞（MCT）探测器	碲镉汞（MCT）探测器
可操作性	>99.5%	>99.5%	> 99%	> 99.5%	> 99%	> 99%
测量
标准温度范围	+5℃至+300℃	+5℃至+300℃	+5℃至+350℃	+5℃至+300℃	+5℃至+150℃	+5℃至+150℃
可选温度范围	直至 +3,000℃ 从 -20℃	直至+3,000℃ 从 -20℃	+2500℃, 低-80℃	直至 +3,000℃ 从 -20℃	+2500℃, 低-20℃	+2500℃, 低-20℃

通用

探测器
探测器像元间距	15 µm
NETD	<25 mk（一般20 mk）
传感器的冷却	闭式循环旋转
电子业 / 成像技术
读出	快照数字（X8400sc/X6580sc） - 快照模拟（X6550sc/X6540sc/X6530sc）
读出模式	异步集成并读取；异步集成然后读取
同步模式	IRIG-B；同步输入，触发输入
图像时间戳	内部 IRIG-B 解码器时钟 / TSPI准确时间戳
积分时间	500 ns 至全帧速率，带自动曝光
子窗口模式	用户自定义
动态范围	14-bit , 16 bits非连续接收
高清视频	DVI 1080p
命令与控制	以太网、Camera Link、可拆卸LCD 显示屏、WiFi
测量
精度	读数的 ±1°C 或 ±1%
校准	根据要求自定义校准
光学数据
滤波	4倍机动定位，带漂移补偿和自动识别
图像显示
热像仪显示	可拆卸触摸式LCD显示屏（800 × 480像素）
模拟调色板	可选 8 位
自动增益控制	说动、线性、感兴趣区域
显示叠加	温度测量 & 比例
图像分析	红外热像仪自主温度分析
一般参数
工作温度范围	-20°C 至 +50°C
冲击 / 振动	运行 15G, IEC 68-2-29 / 运行 2G, IEC 68-2-26
电源	24 VDC
重量（不带镜头）	5.05 kg
尺寸（长x宽x高）	280 × 150 × 180 mm
基座	UNC 1/4”−20 + 3×M5 螺纹

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FLIR X6530SC红外热像仪