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比表面积分析仪
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附 参考价面议 -
JW-D系列动态氮吸附比表面测定仪
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一，常用的测定方法是氮吸附法 参考价面议 -
静态四站比表面积分析仪
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附 参考价面议 -
介孔孔径分析仪2
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附 参考价面议 -
介孔孔径分析仪
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附 参考价面议 -
微孔孔径分析仪
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附 参考价面议 -
JW-004氮吸附比表面测量仪
结构设计的*优势
◎ 样品管快速拔插构造，密封可靠，使用方便；
◎ 液氮杯自动升降系统，平稳且无噪音；
◎ 液氮杯防护装置，防止液氮飞溅并减少液氮挥发；
◎ 模块化设计，便于安装与维修；
参考价面议 -
JW-BK孔隙度分析测量仪
*的仪器功能
◎ 表面积测定
单点和多点BET比表面、Langmuir比表面、外表面积、
微孔总内表面积、吸/脱附总孔内表面积
◎ 孔体积测定
单点总孔体积、BJH吸/脱附总孔体积、微孔总孔体积
◎ 孔径测定
吸附平均孔径、BJH吸/脱附平均孔径、zui可几孔径
◎ 孔径分布测定
介孔吸/脱附孔径微分分布（dV/Dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脱附孔径累计分布、微孔孔径分布
◎真密度测定
参考价面议 -
JW-BK微孔测量仪
*的仪器功能
◎ 表面积测定
单点和多点BET比表面、Langmuir比表面、外表面积、
微孔总内表面积、吸/脱附总孔内表面积
◎ 孔体积测定
单点总孔体积、BJH吸/脱附总孔体积、微孔总孔体积
◎ 孔径测定
吸附平均孔径、BJH吸/脱附平均孔径、zui可几孔径
◎ 孔径分布测定
介孔吸/脱附孔径微分分布（dV/Dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脱附孔径累计分布、微孔孔径分布
◎真密度测定
参考价面议 -
JW-BK孔径分布测量仪
◎ 表面积测定
单点和多点BET比表面、Langmuir比表面、外表面积、
微孔总内表面积、吸/脱附总孔内表面积
◎ 孔体积测定
单点总孔体积、BJH吸/脱附总孔体积、微孔总孔体积
◎ 孔径测定
吸附平均孔径、BJH吸/脱附平均孔径、zui可几孔径
◎ 孔径分布测定
介孔吸/脱附孔径微分分布（dV/Dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脱附孔径累计分布、微孔孔径分布
◎真密度测定
参考价面议 -
JW-RB孔径分布仪
◎ 表面积测定
单点和多点BET比表面、Langmuir比表面、外表面积、
微孔总内表面积、吸/脱附总孔内表面积
◎ 孔体积测定
单点总孔体积、BJH吸/脱附总孔体积、微孔总孔体积
◎ 孔径测定
吸附平均孔径、BJH吸/脱附平均孔径、zui可几孔径
◎ 孔径分布测定
介孔吸/脱附孔径微分分布（dV/Dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脱附孔径累计分布、微孔孔径分布
◎真密度测定
参考价面议 -
JW-004A比表面测试仪
结构设计的*优势
◎ 样品管快速拔插构造，密封可靠，使用方便；
◎ 液氮杯自动升降系统，平稳且无噪音；
◎ 液氮杯防护装置，防止液氮飞溅并减少液氮挥发；
◎ 模块化设计，便于安装与维修；
参考价面议