CIT-3000SM 能量色散X荧光分析仪

应用领域: 适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测

一、             CIT-3000SM 产品配置：

1 、采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列

2 、采用*数字脉冲采集电路及的电源管理技术

3 、采用进口X光管

4 、采用的X射线高压发生器

5 、采用RS232串口通讯

6 、采用精密的系统控制电路和数字处理电路

7 、采用专有的分析算法软件模块V2.0A

8 、配备品牌电脑

9 、配备常用的制样工具

10 、配备的压片机

11 、配备的测试样环

12 、配备的测试硬标样

二、CIT-3000SM 技术指标：

1、分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；

2、元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；

 3、采用美国航天技术的Si （PIN）半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术；

4、测量范围：1－30KeV； 

 5、管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；

 6、管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；

 7、整机功率：50W；

8 、整机能量分辨率：150±5eV；

 9、检测时间： <200S；

 10、工作环境温度：温度0-40℃；

 11、工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；

 12、测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；

13、一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短；