PDL，IL-光学器件PDL/IL测试仪-维思特工程技术（武汉）有限公司手机版

产品简介

PL2000可以同时快速测试偏振相关损耗PDL，插损IL，并且测量光功率。该仪器带有同步端口，可以和可调激光器配合进行波长扫描测试。PL2000强大的光损耗测试功能是基于快速偏振扫描（参考TIA/EIA-455-157），使PL2000能够高精度地迅速完成测试

PDL/IL/光功率测试仪（PL2000）

PL2000可以同时快速测试偏振相关损耗，插损，并且测量光功率。该仪器带有同步端口，可以和可调激光器配合进行波长扫描测试。PL2000强大的光损耗测试功能是基于快速偏振扫描（参考TIA/EIA-455-157），使PL2000能够高精度地迅速完成测试。

特性：

全光纤技术；

直接扫描法；

同时获得PDL和IL的测量值；

光学功率仪表功能；

极快的测量速度；

无需校准；

参数：

操作波长范围
偏振相关损耗	1310 ~ 1620 nm
插入损耗	1310 nm ，1520 ~ 1620 nm
分辨率	0.1 dB, 0.01 dB, 0.001 dB
损耗测量
偏振相关损耗精度	<=±(0.010 + 5% of PDL) dB maximim <=±(0.010 + 2% of PDL) dB typical
插入损耗精度	<=±(0.1 + 2% of IL) dB maximum
损耗测试速度	0.1 sec. Typ.
偏振相关损耗范围	0 to 5 dB
插入损耗范围	50 dB
光功率测量
光功率测量精度1)	±0.2 dB @ -10 dBm
功率测量范围	+3 dBm to -57 dBm
操作温度	10℃ ~ 40℃
储存温度	0℃ ~ 60℃
体积 (W × H × D)	225 × 88 × 420 mm