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VM-E01维科美拓 卤素水分测定仪
维科美拓 卤素水分测定仪 VM-E01 采用环形卤素灯加热，称重精度 0.0001g，水分分辨率 0.001%，量程 40-200℃。仪器操作简便、测试快速，适用于食品、化工、医药、塑料、锂电等多行业，精准测定样品含水率与固含量。 参考价￥18000 -
H36ProHIKMICRO 海康微影 专业手持红外热像仪
HIKMICRO 海康微影 专业手持红外热像仪 H36Pro，384×288 红外 + 800 万可见光，ISR 超分至 768×576；-20℃~550℃高精度测温，50Hz 高帧频，双光融合；触控阳光屏、激光定位，WiFi 互联一键出报告，IP54 防护，工业巡检选。 参考价￥11000 -
TH9201同惠 绝缘电测测试仪 电气安全检测仪器
同惠 绝缘电测测试仪 电气安全检测仪器 TH9201是专业电气安全检测仪器，可进行绝缘电阻、耐压等测试，精度稳定、操作便捷，广泛用于电子、电器、电源等产线与实验室安规检测。 参考价￥5000 -
F287C福禄克 真有效值万用表
福禄克 真有效值万用表 F287C 是工业级真有效值数字万用表，具备高精度、高稳定性，可测量交直流电压、电流、电阻、电容、频率等，适用于电气设备检修、产线测试、现场维护等严苛工况，是专业可靠的测量工具。 参考价￥3000 -
VC300N胜利 数显推拉力计 电子拉力测试仪
胜利 数显推拉力计 电子拉力测试仪 VC300N是一款工业级数显推拉力计，采用高精度传感器与数字显示技术，可精准测量拉力与推力，支持峰值保持、单位切换等功能，广泛应用于五金、电子、包装、汽车零部件等行业的力学性能测试与质量检测，是实验室与生产现场的可靠检测工具。 参考价￥400 -
N62402-40-400恩智 NGI 宽范围可编程直流电源
恩智 NGI 宽范围可编程直流电源 N62402-40-400专为超低电压、大电流场景设计，额定功率 16kW，支持 40V/400A 宽范围输出。设备具备高精度、高动态响应特性，可模拟各类负载特性，广泛应用于燃料电池、动力电池、低压大电流电源模块等产品的性能测试与老化试验，是电源与电池研发、质检环节的核心测试设备。 参考价￥10000 -
Lasersight 100凌光红外 芯片失效分析装备
凌光红外 芯片失效分析装备 Lasersight 100是国产OBIRCH 芯片失效分析装备，采用 1064nm 激光与自主微弱信号检测技术，定位精度≤1μm，可快速锁定金属互联缺陷、短路等失效点，广泛用于 IC、功率器件研发与质检，性能对标进口，助力芯片产业国产化。 参考价￥9800 -
InGaAS 50凌光红外 微光显微镜
凌光红外 微光显微镜 InGaAS 50采用高性能 InGaAs 探测器，专为半导体、电子元器件失效检测打造。设备微光成像灵敏，可精准定位芯片与微器件失效点，非接触式检测、成像清晰、稳定可靠，广泛应用于半导体研发、生产质检及失效分析，是高性价比的国产专业检测仪器。 参考价￥9699 -
InGaAs 100凌光红外 微光显微镜
凌光红外 微光显微镜 InGaAs 100 是凌光红外推出的微光显微镜，专为半导体、电子元器件失效精准检测设计。采用高性能 InGaAs 探测器，微光成像灵敏，可快速定位芯片、微器件失效点，非接触、高精度、成像清晰，广泛用于半导体研发、生产与失效分析，是国产失效检测专用设备。 参考价￥9650 -
THERMO 50凌光红外 锁相红外显微成像系统
凌光红外 锁相红外显微成像系统THERMO 50专为电子器件失效热定位设计。采用高精度红外成像技术，可对芯片、微器件进行非接触式热分布检测与失效点定位，成像清晰、定位精准，广泛用于半导体、微电子研发与质检，是电子元件失效分析的高效专用设备。 参考价￥9500 -
THERMO 100凌光红外 半导体检测设备
凌光红外 半导体检测设备 THERMO 100 是凌光红外推出的国产高精度红外检测设备，采用制冷红外技术，专为半导体、电子元器件提供精准失效定位与热分布分析。可实现芯片、微器件非接触式测温与缺陷检测，成像清晰、定位准确，广泛应用于半导体研发、生产质检与失效分析，满足实验室与产线高精度检测需求。 参考价￥9560 -
THERMO 100M凌光红外 制冷红外测温显微镜
凌光红外 制冷红外测温显微镜 THERMO 100M是专为半导体热分布检测设计。设备集成高分辨率红外热成像与显微观测功能，可实现芯片、微电子元件的非接触式精准测温与热分布分析。适配半导体封装、芯片失效分析、微电子热阻测试等场景，操作便捷、数据精准，是实验室与半导体企业开展热特性研究的核心设备。 参考价￥9450