半导体粉末电阻率测试仪

TP28-FZ-2006A半导体粉末电阻率测试仪

参考价: 15560

具体成交价以合同协议为准
2023-09-12 14:19:29
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产品简介

半导体粉末电阻率测试仪 型号:TP28-FZ-2006A

库号:M348870 查看hh

1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率:0.1mΩ。
3.测量:0.3%读数±2字。
4.数字电压表:3档量程(20mV200mV2V)。

详细介绍

半导体粉末电阻率测试仪 型号:TP28-FZ-2006A库号:M348870   查看hh 1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。2.小电阻分辨率:0.1mΩ。3.测量:0.3%读数±2字。4.数字电压表:3档量程(20mV200mV2V)。5.直流恒流源:5档量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。6.显示:3½位数字显示0--1999,自动显示小数点、单位、极性和过载。7. 粉末测量:①.试样粒度:标准筛网40目以上直至纳米材料。②.试样容器:内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可选件)。③.试样高度:6--20㎜±0.1㎜;测量±0.1㎜。④.取样压力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。8.电源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.电气箱外形尺寸:440×320×120㎜。

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