数显式硅酸根分析仪

型号:XN84/GXF-215C数显式硅酸根分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-03-26 09:23:44
490
属性：
产地:国产；加工定制:否；质保:1年；
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产品属性
产地
国产
加工定制
否
质保
1年
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北京海富达科技有限公司

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产品简介

数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215C库号：M233933
性能特点

精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。

详细介绍

数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215C
库号：M233933   
性能特点

精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS中西集团
数显式硅酸根分析仪（不带打印） 型号:XN84/GXF-215C
库号：M233933   
性能特点

精度高，稳定性好。
检测元件具有恒温环境保证了仪器高稳定性，并使仪器更快的进入到正常工作状态，减小了机内外温度变化对其稳定性的影响。
仪器在不工作时自动待机，有效的保护了光源，大大延长了光源的使用寿命。
经济耐用，可以在现场长期连续运行。
造型新颖美观，使用操作方便
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差 ≤±2.5%FS
重复性误差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
长期漂移 ≤±2.5%FS中西集团
 

 

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