铝膜测厚仪 型号:M334408

M334408铝膜测厚仪 型号:M334408

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2017-02-21 15:11:01
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产品简介

铝膜测厚仪 型号:M334408
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本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量,随着新型包装材料的发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性,因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。
本产品按照国标GBT4957-2003涡流

详细介绍

铝膜测厚仪 型号:M334408

库号:M334408

本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量,随着新型包装材料的发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性,因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。
本产品按照国标GBT4957-2003涡流法原理制造,采用现在流行的触摸屏操控技术,产品新颖,具有测量精度高、稳定性好,既有直观厚度读数又有传统方欧显示。厚度标准由中国计量科学研究院测定,方欧参照GBT15717-1995电阻法,采用4294A型阻抗分析仪测定,方欧值能符合进口生产设备上方欧显示。
技术指标
量程范围: 90-800 Å(用户需要量程可扩大到2000 Å)
方阻: 95-0.47Ω/□
分辨率: 1埃
测量准确度: ≤±2%(F.S)
读数重现性(同一测试点): 10埃
应用对象 : 软包装新材料

注:1微米=1000纳米=10000 Å

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