微纳颗粒 品牌
生产厂家厂商性质
济南市所在地
显微颗粒图像分析仪主要性能特点:
高分辨采集系统:由精密光学显微镜、专业高清晰摄像机和高分辨率图像采集卡*组合,并支持黑白和彩色两种图像采集方式,便于采集到更清晰、更真实的图像;
直观的反映颗粒形貌:将颗粒现时的形貌实时地反映到计算机屏幕上,使用户能够直观的看到,以更全面地了解颗粒的各种属性;
图片自动处理功能:对采集的图像可以自动地完成消除颗粒粘连、去除杂点、消除边界不完整颗粒、填补颗粒空心区域、平滑颗粒边缘等一系列图片处理过程,以保证其测试准确性。
显微颗粒图像分析仪图像拼接功能,增强数据代表性:图像拼接功能的加入,可以将多幅图片拼接成一幅图片后再处理和分析,弥补了单张图因视野小而导致采集数量少的弊端,增加了参与分析的颗粒数量,增强了数据的代表性。
强大的数据分析功能:不仅可以对单个颗粒进行截面积、体积、粒径等参数进行分析,而且对整个颗粒群按数量、体积、面积等不同的统计方式进行频率和累计分布以及表征整个分布特征的一系列参数,zui终以数据表、曲线图或柱状图等不同的表现方式输出测试结果;
分辨特性颗粒:可准确分析颗粒样品的长径比、长宽比、庞大率、球形度、表面率等多种表征颗粒形状的常用参数,轻易地分辨出针状及其他特性颗粒。
主要技术参数
规格型号 | Winner99 |
测试范围 | 1-6000μm |
准确性 | <5% |
重复性 | <5% |
分散方式 | 玻片制样 |
成像元件 | 1/3英寸CCD |
zui大分辨率 | 800×600 |
整体分布特征参数 | D10、D50(中位径)、D90等颗粒分布特征参数 |
统计方式 | 按数量、体积、面积等方式分析颗粒的频率、累计分布 |
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径 |
形状参数 | 长径比、庞大率、球形度、表面率等 |
体积 | 60mm×240mm×500mm |
重量 | 10Kg |