冠层分析系统

SunScan冠层分析系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:02:26
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上海拜能仪器仪表有限公司

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产品简介

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI);SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

详细介绍


SunScan
冠层分析系统





 

一、用途:

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI);SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

二、原理:

根据冠层吸收的Beer法则(Beer's law for canopy absorption)、WoodSunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell's Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

 

三、 组成:

  • SunScan探测器:一支1长,内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器;
  • 反射系数传感器(BFS):综合了2PAR传感器,并能很容易地计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光(the beam fraction)的比例关系;
  • 数据采集终端:一种从采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑,内含2M内存;
  • SunData软件:用来对测量参数进行分析处理;
  • 三脚架:用来安放BFS。

四、 可选件:

  • BF2传感器:替换BFS后,可使测量操作更方便。
 

五、 参数:

  • 探测器工作区域:1000x13mm宽,传感器间距15.6mm
  • 探测器光谱响应:400-700nm (PAR)
  • 探测器测量时间:120ms
  • 探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1
  • 探测器zui大读数:2500μmol.m-2.s-1
  • 操作温度:0 - 60 °C
  • BFS电缆长度:标准为7,可扩展到100;内存:2M内存,包含程序;1600K RAM可用于存储数据。

六、产地: 英国

 

 

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