选配发散角测试

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。 参考价面议

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。 参考价面议

TO56自动盘测系统

普赛斯可见光TO自动盘测机，能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试，支持TO56任意引脚封装测试，采用一块测试板测试64颗TO56，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用，提高工厂生产、测试效率。 参考价面议

可见光TO分拣测试一体机

TOCAN自动化测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试，支持任意引脚封装的TO56/TO9，设备支持TO自动上料、自动下料，可兼容客户使用的上下料载具，测试工作台支持温度控制，可实现TO在设定温度下测试；系统全自动运行，稳定高效，方便客户批量测试。与大功率TO抽屉老化系统配套使用，是一套完整的大功率TO可靠性实验方案，TOCAN测试系统支持老化前后测试和对比，数据存储与分析。 参考价面议

PIV智能耦合电源

PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、背光电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。 参考价面议

850nm光通晶圆测试机

普赛斯光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。 参考价面议

直流脉冲二合一晶圆测试机

普赛斯高功率VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。 参考价面议

BOSA三温测试系统

普赛斯BOSA三温测试系统支持BOSA器件工业级低温、常温、高温的性能测试，包括LIV、APD光电特性测试以及光谱测试。系统采样TEC控温，温度范围为-40℃～85℃，相比使用传统的高低温箱控温，具有控温效率高，温度稳定性、均匀性好，测试效率高，操作简便的特点。 参考价面议

OSA测试板

OSA测试夹具用于插针或软带形式的OSA器件的测试，测试板可配备测试盒，起静电防护和固定作用，软带夹具结构设计灵活，压接软带引脚连接可靠，上下料方便高效。 参考价面议

OSA测试夹具

OSA测试夹具用于插针或软带形式的OSA器件的测试，测试板可配备测试盒，起静电防护和固定作用，软带夹具结构设计灵活，压接软带引脚连接可靠，上下料方便高效。 参考价面议

单模光衰

普赛斯数字光衰减器系列具备单模（1270nm~1610nm）和多模（850nm）的单、四、八通道等多版本应用，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；同时光进光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输入输出光功率；通信接口丰富，支持RS232、LAN或GPIB接口。设备可用于各类速率光模块的应用测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求。 参考价面议

多模光衰

普赛斯数字光衰减器系列具备单模（1270nm~1610nm）和多模（850nm）的单、四、八通道等多版本应用，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；同时光进光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输入输出光功率；通信接口丰富，支持RS232、LAN或GPIB接口。设备可用于各类速率光模块的应用测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求。 参考价面议