IC卡动态双扭测试仪

HY(IC)IC卡动态双扭测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-19 17:00:35
755
属性:
产地:国产;加工定制:否;适用领域:其他;
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上海衡翼精密仪器有限公司

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产品简介

IC卡动态双扭测试仪用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。

详细介绍

一、IC卡动态双扭测试仪产品介绍:

  本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; *符合以上标准。

二、IC卡动态双扭测试仪产品技术参数:

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

试验速度:20~60r/min

卡槽为:15个

測試周期:1~9999

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,总扭曲角度30°

长边Z大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边Z小位移量为2mm±0.50mm,

短边Z大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边Z小位移量为1mm±0.50mm,

夹具安装尺寸*按照国家标准执行。

仪器的尺寸是:长:74.5cm,宽:38cm  高:30cm 

三、IC卡动态双扭测试仪产品用途:

用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。

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