JIMA RT CT-01B分辨率测试卡,用于三维CT系统分辨率测试详细介绍：
JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。JIMA RT CT-01B分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）测试卡封装在一个防护盒中图案布局：T型线/空间尺寸：5种规格图案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-04分辨率测试卡测试卡封装在一个防护盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm图案布局：T型线/空间尺寸：32种规格图案,0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
JIMA RT RC-05B分辨率测试卡测试卡封装在一个防护盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm图案布局：T型 （3-10μm）I 型 （15-50μm）线/空间尺寸：16种规格图案,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
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