X射线镀层测厚仪校正片/校验片
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品牌：美国Calmetrics 中国区总代理 详细咨询专线: 许先生
美国Calmetrics一系列标准片，标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证，UPA是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。

UPA镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。

特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好
　 X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

X射线测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书）

我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值NIST证书.

我们除了可以提供测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪的标准片和库仑测厚仪的标准测试药水。并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。

我们公司是一家精密测试仪器代理商，为顾客提供*上等的产品及服务。 我公司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及美国Thermo**代光学准直器X荧光测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时或亲临我司测试及参观!!!我们将竭力为您服务。

十多年来，我们一直服务于PCB 厂商、电镀行业、科研机构、半导体生产、微电子、光电子、光通讯等电子行业。我们提供高质量的产品和*上等的服务都得到顾客*高的奖励，在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要，愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！需详细资料，请与我们联系。