DIGIMAR 814 N 高度测量和划线仪器

名称：DIGIMAR814N高度测量和划线仪器•高精确度•增量式感应测量系统•测量头带滚珠导套•无阻力测量系统•大型，易读数字显示器•测量和显示装置集成在测量头中•通过OptoRS232C接口传输数据•数字预设•在任意位置设置零位•、最小和-最小功能•为1个特性输入公差限度•切换毫米/英寸•测量头侧面有手柄，方便操作•恒定测量力 参考价面议

DIGIMAR 814 G 高度测量和划线仪器

名称：DIGIMAR814G高度测量和划线仪器•高精确度•增量式感应测量系统•测量头带滚珠导套•无阻力测量系统•大型，易读数字显示器•测量和显示装置集成在测量头中•通过OptoRS232C接口传输数据•数字预设•在任意位置设置零位•、最小和-最小功能•为1个特性输入公差限度•切换毫米/英寸•测量头侧面有手柄，方便操作•恒定测量力 参考价面议

DIGIMAR 817 CLM 高度测量仪

名称：DIGIMAR817CLM高度测量仪•带双读取头的光学增量测量系统提供优异的精度和可靠性•动态感测系统实现高度可重现性•空气轴承系统实现轻便而平滑的移动•不锈钢导轨上的精密测量头•机动测量支架简化了测量运动过程•仪器关闭后测头常数不变•集成可充电电池 参考价面议

SPECTROPORT 发射光谱仪OES便携式金属分析仪

SPECTROPORT–用于现场金属材料中各合金元素，包括C,P,S的精确分析不同于手持式XRF，准确分析碳、磷、硫、硼、锂、铍、钙、硅、镁和铝等元素，即使在低水平或临界水平，最多只需10秒 参考价面议

SPECTRO MIDEX 贵金属,小点能量色散X射线荧光（ED-XRF）光谱仪

SPECTRO MIDEX 贵金属,小点能量色散X射线荧光（ED-XRF）光谱仪 参考价面议

实验室快速分析：偏振XRF光谱仪SPECTRO XEPOS

实验室快速分析：偏振XRF光谱仪产品分类：偏振X射线荧光光谱仪斯派克XEPOS能量色散x射线荧光光谱仪(ED-XRF)重新定义ED-XRF分析特殊性能的新水平 参考价面议

SPECTROCUBE 偏振能量色散X荧光分析仪 ED-XRF

SPECTROCUBE偏振能量色散X荧光分析仪ED-XRFSPECTROCUBE型ED-XRF分析仪为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析同类产品中测试速度：高速高精度 参考价面议

机械度盘式比较仪

型号：Millimess1003名称：机械度盘式比较仪介绍：大型高对比度度盘面可调公差标记可锁定精调螺丝防震移动安装轴和测量轴均使用硬化不锈钢制造测量轴安装在高精密球形导轨上，减小滞后对测量轴上的横向力（侧隙）不敏感通过宝石轴承移动和精密齿轮、小齿轮确保灵敏度和准确度盒型保护外壳恒定测量力可使用线缆释放装置中的螺丝或提升旋钮缩回测量轴 参考价面议

度盘式比较仪螺纹卡规

型号：MaraMeter853名称：度盘式比较仪螺纹卡规介绍：坚固的铸钢架，带热绝缘测量轴安装在长导轨上，使用操纵杆控制缩进可使用翼形螺丝通过蜗杆和支架调整砧轴，用于安装可更换支架轭测量轴和砧轴均为硬化不锈钢制，安装孔用于插入可更换砧可方便微调砧轴内置弹簧实现恒定测量力，避免用户影响非接触式定位实现抗磨损性能 参考价面议

指示器支架

型号：MarStand名称：指示器支架，比较仪支架，跳动测试仪器介绍：支持臂配有两个接头基座采用*的开/关永磁体磁力覆盖表面和V形底部和基座前侧和支持臂为不锈钢制支持臂可微调 参考价面议

测试指示器

型号：MarTest名称：测试指示器,配备长测量砧，用于测量难以测量的测量点介绍：高对比度度盘面使用O形环密封电镀珍珠铬外壳带3个集成燕尾防震机制抗磁版本通过自动匹配感应方向，从而保证无错误的读数球轴承支持双杆，滑动离合器提供超载保护 参考价面议

实验室分析：ICP-MS质谱仪

实验室分析：ICP-MS质谱仪SPECTROMS全谱同时测量和储存5-240amu的无机质谱，实现更精确的实时内部标准化、快速指纹识别，包括对瞬态信号的测量，取得的样品处理量，每日多达1000份样本追溯分析：在测量后编辑所有同位素参数，再重新计算光谱和分析 参考价面议