产品概述：
        太阳能电池硅片检查显微镜55C-DCB可对太阳电池生产过程中每个环节产生的表面缺陷进行细微的检查和测量。不仅可以检查太阳能电池表面颜色色差，绒面色斑，亮斑，裂纹，穿孔，崩边，掉角，缺口，印刷偏移；主、副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等缺陷。还可对杂质、残留物成分进行分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等，造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象，同时可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差以及主、副栅线，背电极的宽度、均匀度，栅线间距离及副栅线到电池边的距离，栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积等。系统配置了优质无限远光路系统的三目金相显微镜XJ-52C、500万高清晰数字摄像头及图像测量管理软件，可对太阳能电池板图像进行检查、拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。是太阳能电池硅片检查的理想仪器。

性能特点：
1、显微镜采用了优质的光路设计，使成像更清晰
2、配置了落射照明装置、视场光栏和孔径光栏、同时配有偏光装置
3、可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差
4、可以测量主、副栅线，背电极的宽度、均匀度，栅线间距离及副栅线到电池边的距离， 栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积
5、可以检查太阳能电池表面颜色色差，绒面色斑，亮斑，裂纹，穿孔，崩边，掉角，缺口，印刷偏移主副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等现象。
6、可对杂质、残留物成分进行分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等

规格参数：

一、系统配置：

序号	配置名称	主要规格参数
1	三目透反射金相显微镜XJ-52C	50-800X
2	500万高清数字摄像头PZ-500M	500万像素
3	摄像接口MCL	1X或者0.5X
4	图像测量管理软件	具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接，融合等功能，并可以连接多媒体、打印、等多种输出方式。
5	联想台式机（选购）	XP、win7系统，内存1G以上，独立显卡512M以上，PCI插槽
6	佳能打印机（选购）	彩色激光打印机

二、显微镜技术参数： 

序号	名称	技术参数
01	平场目镜	大视野 WF10X(Φ18mm)
02	长距平场物镜	PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80
03	总放大倍数	50X-800X
04	观察头	三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换)
05	转换器	五孔 (外向式滚珠内定位)
06	粗微调调焦范围	粗微动同轴调焦, 微动格值0.7μm, 粗动松紧可调,带锁紧和限位装置
07	载物台	三层机械移动式尺寸: 250mmX230mm,移动范围: 154mmX154mm
08	光瞳距离	53-75mm
09	滤色片	蓝、磨砂
10	落射照明系统	6V 20W卤素灯,亮度可调
		带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃
11	仪器重量	净重11.0公斤    毛重12.5公斤
12	仪器尺寸	仪器尺寸42X45X45（cm） 包装尺寸45X50X50(cm)