工作原理：采用X射线荧光（XRF）技术进行多元素分析
＊探 测 器：高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器，Peltier效应半导体制冷
＊硬件系统：日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器 4096像元微通道结构
＊充电电池：电池满充电可连续工作8-12小时
＊显 示 器：带背光的视频图形阵列（VGA）触摸屏LCD,显示分析时间，合号，成分百分比含量和分析误差值（2倍sigma误差）
＊分析范围：从22号元素钛（Ti）到83号元素铋（Bi）中，23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析，需根据具体情况协商确定
＊工作模式：（1）合号鉴别与成分分析模式；（2）标识匹配鉴别模式；（3）超级成分分析模式
＊数据存储：6000个以上的测量数据及其X射线谱图
＊仪器重量：1.4公斤
＊仪器尺寸：248×273×95mm（L×H×W）
＊激 励 源：低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管
＊工作条件：环境温度-20℃-50℃
＊安全特性：操作密码保护，防止非*人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁
＊标准附件：带锁的防水手提箱，携带用仪器保护套，备用充电电池及护套，110v/220v通用充电器，PC机连接电缆，NDT软件，仪器手腕安全系索，仪器检查、验证用合金标样，使用手册
分析范围
＊激 励 源：Ｘ射线管
＊分析元素：Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb
应用范围：各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等；可通过对其它合金元素的测定，实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。
