JT 多传感器轴对准测试系统-北京费恩科技有限公司手机版

详细介绍

Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试，也支持轴对准测试。然而，MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统，用于精确的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能：

1. 不同视场的热像仪的轴对准；

2. 不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准；

3. 可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准；

4. 激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准；

5. 激光测距机与热像仪之间的轴对准；

6. 激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准；

7. 可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度；

8. 热像仪的分辨率；

9. 激光测距机的发散角；

10. 参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。

可选：

1. 可见光/近红外相机与短波红外相机之间的轴对准；

2. 热像仪与短波红外相机之间的轴对准；

3. 短波红外相机的分辨率/灵敏度。

产品参数

表1. JT系列系统的版本基于平行光管口径

口径编码	平行光管有效输出口径（mm）	平行光管内死区 (mm)	尺寸
JT150	150	46	270x340x740 mm
JT200	200	51	320x410x980 mm
JT250	250	56	350x440x1150mm
JT300	300	70	450x520x1450mm
JT400	400	81	550x620x1850mm
JT500	500	96	650x 720x2300 mm
JT600	600	125	750x820x2750mm
JT-EX	可选600以上	/	/

表2. JT测试系统版本

编码	计算机化控制/轴对准/测试功能	模块
X1	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标
X2	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）以及单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器
X3	X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准，增加了ABS卡，LIC卡以及两个ILU卡。	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡
Y1	计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）与单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试粗略测试激光测距机的发散角	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件
Y2	Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器	CJT平行光管，DNSB双色源，CDNSB控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡
Y3	Y2+ JT光轴可垂直于被测系统固定平台的基准机械面	Y2+带自准直功能的CJT平行光管、及BRL相机
Y4	Y3+激光测距机的发散角测试功能	Y3+SR10相机以及升级BOR软件
Y5	Y4+激光接收器轴对准功能	Y4+BRES接收器对准模块和CBRES控制程序

附加选项：

1. JT工作站的任何版本都可以在所选版本中添加字母S，扩展到SWIR成像仪的测试。

2. Inframet可以在所选版本中添加Borex，提供特殊的Borex平台来固定被测成像仪，以支持光电系统的专业对准。

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