品牌
其他厂商性质
北京市所在地
ImageMaster® HR TempControl 控温型高精度光学传递函数测量仪
面议透射式中心偏差检查仪
面议AspheroMaster®高精度非球面与自由曲面表面形貌检测仪
面议ImageMaster® HR IR紧凑型高精度红外MTF测量仪
面议ImageMaster® HR紧凑型高精度MTF测量仪
面议ImageMaster® Universal高精度光学传递函数测量仪
面议STELLA 离轴波前测量仪用于优化镜头
面议ImageMaster® Afocal 高精度望远系统光学参数测量仪
面议ImageMaster® Cine 高精度摄影光学系统测量及装调仪
面议LM-1精密亮度计
面议WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪
面议Bristol非接触式光学测厚仪
面议产品介绍:
从设计的角度看,SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源,对被测成像探测器和图像处理系统进行照射,进而分析被测成像探测器(摄像机芯)产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内(400-2500nm或更窄的波段)产生16个不同光谱波段的光。
产品参数:
一般参数 | |
温度范围(工作/储存) | +5ºC到+35ºC / -5ºC到+55ºC |
尺寸 | 119x40x24cm |
重量 | 29.2kg |