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ImageMaster® HR TempControl 控温型高精度光学传递函数测量仪
面议透射式中心偏差检查仪
面议AspheroMaster®高精度非球面与自由曲面表面形貌检测仪
面议ImageMaster® HR IR紧凑型高精度红外MTF测量仪
面议ImageMaster® HR紧凑型高精度MTF测量仪
面议ImageMaster® Universal高精度光学传递函数测量仪
面议STELLA 离轴波前测量仪用于优化镜头
面议ImageMaster® Afocal 高精度望远系统光学参数测量仪
面议ImageMaster® Cine 高精度摄影光学系统测量及装调仪
面议LM-1精密亮度计
面议WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪
面议Bristol非接触式光学测厚仪
面议产品介绍:
SIT测试系统是两个主要模块的总和:波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统(PC、图像采集卡、软件)。被测探测器位于SITO光源的输出端,传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射,被测探测器生产标准格式的图像,通过IPS系统采集并分析图像,确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。
一般参数 | |
工作温度范围 | +5ºC到+35ºC |
储存温度范围 | -5ºC 到+55ºC |
湿度范围 | 90%(无冷凝) |
重量 | 58kg |
尺寸 | 173 x 43 x 28 cm |