• 产品介绍

VIT测试系统外形图

VIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs 成像探测器的测试系统，支持成像探测器所有重要参数的测试。

VIT测试系统是一个模块化的测试系统，由以下五个部分组成：双图像投影通道，一组图像采集卡，及，测试软件和可选的测试原始芯片用的CON控制模块。双图像投影通道是VIT测试系统的核心模块，包括辐射通道和成像通道。

VIT测试系统提供了一组传统参数的测量，这些参数通常用于表征红外焦平面/热成像核心的性能。另外也提供成像传感器和相机的EMVA1288标准推荐的性能参数测试。

一般测试功能：

1. 辐射参数：相对光谱灵敏度、比探测率D*、量子效率QE、灵敏度、动态范围、线性度、NEI、FPN固定图形噪声、非均匀性、信噪比、坏像素数、3D噪声。可以测量16个不同波长下的情况。

2. 成像参数：调制传递函数MTF、分辨率、最小可分辨对比度、串扰、高光溢出Blooming、视场。

EMVA1288测试功能：量子效率，增益，时间暗噪声，DSNU1288，信噪比，PRNU1288，LE非线性，灵敏度阈值，饱和容量，动态范围，暗电流，相对光谱灵敏度。

• 产品参数

表1 用于定义VIT测试系统版本的两位数编号

表2 产品详细参数