JIMS大型多传感器轴对准测试系统-北京费恩科技有限公司手机版

详细介绍

JIMS测试系统作为JT测试系统的特殊版本，适用于测试光学口径超过1000mm的光电系统。是一套对于水平方向布局的光电系统测试理想的解决方案。由于CEB模块产生的内部对准误差较小， JIMS测试系统的测试精度（0.2mrad）会比JT测试系统（低于0.1mrad）略差。JIMS可以看作JT400系统带有CEB平行光管折镜的附加模块，可以在某方向（通常是水平方向）将平行光管孔径增加到1000毫米。对于成像/激光传感器位于大型水平平台上的超大型地球观测监视系统，JIMS是一个理想且经济的轴对准测试解决方案。

产品参数

表1 基于距离的JIMS系统型号

产品型号	被测光电系统两传感器中心距离
JIMS600	600mm
JIMS700	700mm
JIMS800	800mm
JIMS900	900mm
JIMS1000	1000mm

表2 JIMS测试系统版本

编码	计算机化控制/轴对准/测试功能	模块
X1	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，CEB扩展器
X2	非计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）以及单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，CEB扩展器
X3	X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准，增加了ABS卡，LIC卡以及两个ILU卡。	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，CEB扩展器
Y1	计算机化测试系统典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）与单脉冲激光测距机测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试粗略测试激光测距机的发散角	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，CEB扩展器
Y2	Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器轴对准	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，CEB扩展器
Y3	Y2+ JT系统的光轴可以垂直于被测系统所在的平台参考机械平面	Y2+更新了自动准直CJT平行光管、及BRL相机
Y4	Y2+精确测量被测激光测距机的发散角	CJT平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，BRL相机，SR10相机，CEB扩展器

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