用于DDR5 LPDDR5及GDDR7特性和测试的桌面型ATE测试解决方案

用于 GDDR7 特性和测试的 ATE 工作台

Introspect technology M5512 GDDR7 内存测试系统平台是一款开创性的解决方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成电路进行特性化和功能测试。提供高速、双 向 PAM3 讯号、低速 NRZ 信号和完整的协议训练能力，是帮助业界让 DRAM产品 Time to Market 的工具。

Key Features :

⬧ 完整的内存测试：连接到单 一 GDDR 颗粒中的所有通 道，从而提供所有通道的测 试覆盖范围。

⬧ 可编程供电电源：精确编程 对 DRAM 的供电和断电流程

⬧ 的讯号完整性：的顶针组件可在 PAM3 模式 下以 40 Gbps 的速度运行。

⬧ 交流特性：PS 等级分辨率的 时序与 mV 分辨率 shmoo 功 能。

Key Beneffts :

⬧ 上市时间：深度执行内 存读取&写入操作并测试出电 气特性以及时序规范

⬧ PAM3 讯号传输：利 用多年的 SerDes 技术专业知 识，完整的保护 GDDR7 以及PAM3 的讯号规范的要求。

⬧ 自动化：软件控制环境非常适 合编排任务、验证以及设备与 系统间的自动化整合控制。

           Access to every pin and every memory cell

The M5512 includes an integrated test board for easy DUT attachment.