Introspect-T-CON及LVDS测试解决方案-深圳市锐测电子科技有限公司手机版

详细介绍

高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案

Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）

附件及如下是关于Introspect T-CON及LVDS测试解决方案的产品资料及主要功能介绍，目前Introspect的产品已经广泛应用在很多DDIC及芯片的厂商用于T-CON多通道等产品测试验证上。

Introspect SV1C/SV3C系列产品五大亮点:

1.每个通道具备独立注入抖动能力

2.每个通道具备调整Skew能力

3.可调整共模电压幅值(VCOM)

4.可编程客制化码型

5.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation

T-CON及LVDS测试解决方案:

Introspect LVDS PG的主要优势:

1. 可以透过PG直接发图片

2. 支持及满足共模电压测试要求

3. ±4.5% SSC功能的支持

其他优势类似于CDPHY PG和BERT的功能

4.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation