扫描电迁移率粒径谱仪  SMPS+C

扫描电迁移率粒径谱仪 SMPS+C

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2024-02-28 10:48:53
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产品简介

德国/GRIMMSMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350nm(M-DMA)或10—1094nm(L-DMA)的气溶胶的粒径分布

详细介绍

德国/GRIMM

  • SMPS+C 系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型

  • 号的DMA 可以同时检测5—350 nm(M-DMA)或10—1094nm(L-DMA)的气溶胶的粒径分布。

  • 根据应用不同,可选配CPC 5403;实验室固定式:CPC 5416;19 英寸机柜式:CPC 5420。

  • 系统每次开机时,自动自检以确保系统准确性,自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC

  • 状态检查等。自检通过后,软件自动控制采样、测量和数据记录。

  • 检测粒径范围: 5-350 nm(M-DMA)/11-1094 nm(L-DMA)

  • 检测浓度范围: 0—107 /cm3

  • 流量:采样流量0.3lpm;鞘气流量:3lpm

  • 粒径通道:步进模式45~255通道;扫描模式每10倍64通道(对数间隔)

  • DMA长度:88mm(M),350mm(L)


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