PSS Nicomp380ZLS 纳米粒度及电位分析仪

​型号：PSS Nicomp380ZLS-CS 纳米粒度及电位分析仪​​

PSS Nicomp380ZLS 纳米粒度及电位分析仪是专门用于测量纳米级颗粒以及胶体样品体 系的粒径分析仪器，其测量范围为 0.3 nm - 6 μm。NICOMP 380 已经成为众多研究人员和上众多科学家的优选。仪器所拥有的基线调整自动补偿能力和高分辨率多模式算法，多年来不 同领域的使用证明了它可以区分开单峰样本体系和无约束复杂多峰 样本体系，是研发的有利助手！

​产品优势
 
宽广的动态检测范围                 0.3 nm ---- 6 μm

​ZETA电位                           +/- 500mV

的精密测试                       无需校准
各种代表性样品                       检测速度快
灵敏度高                                 对团聚粒子灵敏度高(D6 )
分析函数                                 模拟研究粒度分析
复合型算法                             高斯单峰算法与 NICOMP 多峰算法
模块化设计                             可同机搭载测试 ZETA 电势电位模块， 还可增加自动稀释和自动滴定等辅助                                                   测试模块，功能全面，使用便捷。​

技术参数